第74章 测到了！我测到了！一整块，直接测定！（2/5）

他们正在研究的‘多层锡烯薄膜’材料，才能算是稳定生长，一整块材料去除不稳定的边缘后，都是‘多层锡烯薄膜’。

两个材料也是不同的。

箱子里的样品是超薄的锡烯薄膜，有些位置甚至只有几个原子层，还可能存在单原子层，薄到根本看不清楚。

超薄的锡烯薄膜材料，有位置可以明显测定到拓扑边缘态现象，也能测定到微弱的伊辛超导信号。

而正在研究的‘多层锡烯薄膜’，原子层数更多，已经是常规‘三维’材料’。

原子层数变多，超导特性就更加明确，就能够直接测定到伊辛超导现象。

拓扑边缘态特性则正好相反，层数变多，原子层和原子层不完美堆迭会直接影响到材料内部的绝缘特性。

他们的实验也是希望构建出原子层完美堆迭的‘多层锡烯薄膜’材料。

材料内部出现稳定的绝缘特性，也就展示出了拓扑边缘态现象。

拓扑边缘态，决定了常温100%导电率。

超薄的锡烯样本拥有拓扑边缘态特性，但因为组成极不稳定，有的地方是双原子层，有的地方则是更多层，还有位置材料会粘黏在一起，就是的材料性态非常不稳定。

多层锡烯薄层有序堆迭的好处在于，即便有的位置材料粘在一起，但因为是原子层数多，通路要大的多，其他的位置还是畅通的。

总结来说，锡烯的层数少，就必须质量高，制造难度会高上几十倍、上百倍。

锡烯的层数多，质量差一些也不影响特性，实用价值也要高的多。

现在的实验就是希望能测定到材料内部的绝缘特性，从而制备出一块常温100%导电性的材料。

朱炳坤思考着都有些焦躁，“检测结果到底怎么样，还没完吗？”

“发个信息也行啊……”

箱子里的样品有很多，陈帅帮着拿出了好几份放在桌上，验收组的人都可以仔细看一下。

孟志阳、洪振宇再包括曹旺，每个人都拿着样品仔细的看，又看了一阵以后，三个人都放下了，样品也不再说什么了。

曹旺和洪振宇恨不得马上拿着样品回去做检测。

尤其是洪振宇，他做了很多年的研究，都没制备出如此大小的锡烯样品。

曹旺的心态则截然相反，他希望看到的样品都是假的，回去以后什么都检测不到，否则他的团队就没有办法继续研究了。

同样的研究方向，对方用碲化铋做衬底，制备了如此多的锡烯样品，再都能检测到拓扑边缘态和伊辛超导信号。

他的团队怎么办？

两年的努力付之东流，后续的研究也失去了意义。

这就是科研竞争的残酷性。

曹旺绷着个脸，一点都笑不出来，后来干脆凑到了孟志阳身边，小声道，“孟院士，样品也就是这样了，该进行下一步了吧？不能总是在这里坐着。”

实际上，他也想去看看实验室，看看对方所研究的衬底，看看锡烯制备工艺上，和自己的团队究竟有什么不同。

也许，就能借鉴一下？